Güncel olmayan bir tarayıcı kullanıyorsunuz. Bunu veya diğer web sitelerini doğru şekilde görüntülemeyebilir. Yeni sürüme geçmeli veya bir alternatif kullanmalısınız. tarayıcı.
Transistör Bacakları Nasıl Bulunur? Sağlamlık Testi
BJT, FET ve MOSFET gibi farklı transistör türlerini test edebilen mikrodenetleyici kontrollü transistör test cihazı. PIC16F876 mikrodenetleyici, 2×16 karakter LCD ekran ve 74HC4052 multiplexer entegresi kullanılan devre; transistörün bacak bağlantılarını belirlemeye, sağlamlık kontrolü yapmaya ve uygun transistörlerde kazanç değerini görüntülemeye yardımcı olur.
Devrenin temel özellikleri
Bipolar (BJT), FET ve MOSFET transistörlerin test edilmesi
Base, collector, emitter veya uygun transistörlerde gate, drain ve source uçlarının belirlenmesi
Transistörün sağlamlık kontrolünün yapılması
Uygun bipolar transistörlerde akım kazancının (hFE) ölçülmesi
Sonuçların 2×16 karakter LCD ekranda gösterilmesi
Kontrol birimi olarak PIC16F876 mikrodenetleyici kullanılması
Sinyal yönlendirme ve ölçüm devresinde 74HC4052 multiplexer entegresinden yararlanılması
Not: Ölçüm aralığı, desteklenen transistör çeşitleri ve kazanç ölçümünün hangi bileşenlerde geçerli olduğu devrenin yazılımına ve şemasına bağlıdır. Bu nedenle bütün transistörlerde kazanç ölçümü yapıldığı varsayılmamalıdır.
